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測試U盤壽命能用多久圖文內容教程

發布時間:2022-07-13 文章來源:xp下載站 瀏覽:

U盤,全稱USB閃存盤,英文名“USB flash disk”。 它是一種使用USB接口的無需物理驅動器的微型高容量移動存儲產品,通過USB接口與電腦連接,實現即插即用。U盤連接到電腦的USB接口后,U盤的資料可與電腦交換。而之后生產的類似技術的設備由于朗科已進行專利注冊,而不能再稱之為“優盤”,而改稱“U盤”。后來,U盤這個稱呼因其簡單易記而因而廣為人知,是移動存儲設備之一,F在市面上出現了許多支持多種端口的U盤,即三通U盤(USB電腦端口、iOS蘋果接口、安卓接口)。

  測試U盤壽命能用多久呢?很多小伙伴反應自己的u盤購買沒多久就壞掉了,也有的小伙伴生怕用久了,u盤磨損嚴重容易壞掉,種種情況都會給人帶來超級多的損失,所以今天快啟動小編為大家介紹測試U盤壽命能用多久圖文教程,一起來看看吧。

  閑的沒事用urwtest對一個臺電黑膠體U盤做了一次全掃,發現了有3處錯誤。于是想下載量產工具對其進行壞塊屏蔽(這個盤本來也沒用幾次,主要拿去打印店打印文檔的),經過這個U盤來測試一般TLC閃存的U盤壽命有多久;以下軟件都可以點名字去免費下載到。

  1. 討論Flash壽命測試方法

  2. HD Tune壞塊檢測功能對于Flash產品不適用

  3. 可使用Check Flash 檢測U盤邏輯儲存錯誤以判斷U盤狀態

  U盤用chipgenius檢查具體信息如下:

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  閃存精靈檢測結果如下:

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  8GB 閃迪 TLC 主控型號為:DM8261

  量產圖

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  打開量產工具發現該工具并不支持低格及壞塊掃描,于是判斷該主控可能不支持壞塊管理和磨損平衡,于是萌生了測試U盤壽命的想法。

  1. 壽命測試

  使用軟件Check Flash對U盤進行寫入校檢,測試邏輯存儲錯誤。由于該U盤不支持平衡磨損,遂將U盤格式化為Fat32,系統最大只能使用4GB作為測試空間。黑膠體U盤很容易發熱,所以采用水冷方式散熱,溫度保持在20℃。

  歷經一周多日日夜夜的連續測試,數據如下,其中,縱軸代表邏輯存儲錯誤個數,橫軸代表寫入次數。

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  可以看到,寫入次數在120次之前,邏輯錯誤個數較穩定,當寫入次數在150次之后,邏輯錯誤個數井噴式增長,寫入達到200次時,我終止了測試。這個盤能夠穩定使用的寫入周期已經明了。。。

  之前我曾使用同樣方法測試一款群聯主控U盤,在燒入鏡像后留出10MB空間用于測試,結果寫入周期達到50000次時仍未發現邏輯錯誤井噴式增長。原因可能是由于主控支持磨損平衡,而我劃分的測試區域又小,不足以抵抗磨損平衡算法。

  因此,測試Flash壽命的可靠方法有二:1)使用不支持磨損平衡的主控---貌似不多了 2)全盤寫入校檢---用時長

  2. 在測試結束后,使用HD Tune掃描U盤壞塊:

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  你沒看錯,全綠通過!而我將右邊圖形顯示方式改為速度圖后,結果完全變了。。。

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  從壞塊圖中我們無法看到經過長時間測試之后這個U盤有任何問題,而其速度圖可以直觀的顯示出測試區(4GB)和未測試區(3.6GB)的速度差異!

  主 要原因:經過多次寫入,該部分Flash已經出現所謂壞塊,只不過HD Tune是以磁盤容量來劃分每個測試塊大小,當壞塊個數(容量)低于某一個值時,整個HD測試塊并不會劃定為已經損壞。但是在進行讀寫操作時,大量的 Flash壞塊會導致延遲增大,這也是為何HD Tune兩種圖差異明顯的原因。因此我認為HD Tune或是相似原理的軟件不適合檢測U盤的健康狀態。

  3. Check Flash 可以用來測試U盤健康狀態

  之所以選用Check Flash 是因為它可以精確顯示每個扇區物理地址的錯誤,例如TLC測試時,寫入 010101 ,而校驗時發現 000101,那么這就算一個錯誤。雖然ECC可以修正這種錯誤,但是存在這么一個不穩定的扇區,相信大家也是會想辦法修正的吧。之前簡單測試過,安國主控ECC2以內,一個邏輯錯誤都沒有,越大邏輯錯誤越多。

  到此,測試U盤壽命能用多久圖文教程就為大家分享結束了,我們可以借助u盤工具對u盤壽命進行測試,大家要是不懂操作也沒關系,跟著以上操作就能快速了解u盤壽命,希望對大家有幫助哦。



U盤最大的優點就是:小巧便于攜帶、存儲容量大、價格便宜、性能可靠。

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